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In Situ Monitoring Charge Transfer on Topotactic Epitaxial Heterointerface for Tetracycline Degradation at the Single-Particle Level

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所属单位：晶体材料研究院

发表刊物：ACS Catal.

关键字：epitaxial heterojunction;single-particle spectroscopy;charge transfer;FLIM;crystal facet

第一作者：李蓓

论文编号：1557661089592934402

字数：5000

是否译文：否

发表时间：2022-07-01

上一条： Composite of lead-free halide perovskite Cs3Bi2Br9 with TiO2 as an efficient photocatalyst for C(sp3)？？ H bond activation

下一条： Strain-assisted in-situ formed oxygen defective WO3 film for photothermal-synergistic reverse water gas shift reaction and single-particle study

黄柏标 (教授)