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Effect of Different Gate Lengths on Polarization Coulomb Field Scattering Potential in AlGaN/GaN Heterostructure Field-Effect Transistors

发布时间:2019-04-13
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
scientific reports
全部作者:
林兆军,程爱杰
第一作者:
崔鹏
论文类型:
综合研究
论文编号:
F2AA78930D604001BBE2CDBB7272ED00
卷号:
8
是否译文:
发表时间:
2018-06-13