Determination of the strain distribution for the Si3N4 passivated AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
发布时间：2019-04-14
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- 所属单位：
- 微电子学院
- 发表刊物：
- Superlattices and Microstructures
- 全部作者：
- 林兆军
- 第一作者：
- 付晨
- 论文类型：
- 综合研究
- 论文编号：
- 9AD58E32C9FD442592342BDEB77341DC
- 卷号：
- 111
- 页面范围：
- 806
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2017-11-01