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Effects of post-annealed floating gate on the performance of AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-04-14
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
Chinese Physics B
全部作者:
林兆军
第一作者:
崔鹏
论文类型:
综合研究
论文编号:
B77CB16F9B4B4F9ABB3EBB10DEAE1AD4
卷号:
26
期号:
12
是否译文:
发表时间:
2017-12-01