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Parasitic source resistance at different temperatures for AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-04-14
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
Chinese Physics B
全部作者:
林兆军
第一作者:
刘艳
论文类型:
综合研究
论文编号:
C35C3AC632D94246822701F80872F058
卷号:
26
期号:
9
是否译文:
发表时间:
2017-09-01