Analysis of interface trap states in InAlN/AlN/GaN heterostructures
发布时间：2019-04-14
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- 所属单位：
- 微电子学院
- 论文名称：
- Analysis of interface trap states in InAlN/AlN/GaN heterostructures
- 发表刊物：
- Semiconductor Science and Technology
- 论文类型：
- 综合研究
- 论文编号：
- lw-164543
- 卷号：
- 29
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2014-08
- 发布时间：
- 2019-04-14