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Effects of GaN cap layer thickness on an AlN/GaN heterostructure

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
Chinese Physics B
全部作者:
林兆军
第一作者:
赵景涛
论文类型:
综合研究
论文编号:
lw-164566
卷号:
23
页面范围:
127104
字数:
2
是否译文:
发表时间:
2014-10-10