Effects of rapid thermal annealing on the electrical properties of the AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors with Ti/Al/Ni/Au gate electrodes
发布时间：2019-10-24
点击次数：
- 所属单位：
- 集成电路学院
- 论文名称：
- Effects of rapid thermal annealing on the electrical properties of the AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors with Ti/Al/Ni/Au gate electrodes
- 发表刊物：
- APPLIED PHYSICS LETTERS
- 第一作者：
- 赵景涛
- 全部作者：
- 林兆军
- 论文类型：
- 综合研究
- 论文编号：
- lw-173290
- 卷号：
- 105
- 是否译文：
- 否
- 发表时间：
- 2014-08
- 发布时间：
- 2019-10-24