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Effect of polarization Coulomb field scattering on device linearity in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
JOURNAL OF APPLIED PHYSICS
全部作者:
林兆军
第一作者:
崔鹏
论文类型:
综合研究
论文编号:
F23E801B38C847F2A09CFE3045EEA09F
卷号:
122
期号:
12
是否译文:
发表时间:
2017-09-28