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The influence of the PCF scattering on the electrical properties of the AlGaN/AlN/GaN HEMTs after the Si3N4 surface passivation

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
Applied Physics A-Materials Science & Processing
全部作者:
林兆军,程爱杰
第一作者:
付晨
论文类型:
综合研究
论文编号:
F32AD635A7794EE79E6E6951FD576DD1
卷号:
124
期号:
4
是否译文:
发表时间:
2018-04-01