论文成果

返回中文主页

Effect of Different Gate Lengths on Polarization Coulomb Field Scattering Potential in AlGaN/GaN Heterostructure Field-Effect Transistors

发布时间:2019-10-25
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
Scientific Reports
全部作者:
林兆军,程爱杰
第一作者:
崔鹏
论文类型:
综合研究
论文编号:
F2AA78930D604001BBE2CDBB7272ED00
卷号:
8
是否译文:
发表时间:
2018-06-13