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Effect of Polarization Coulomb Field Scattering on Parasitic Source Access Resistance and Extrinsic Transconductance in AlGaN/GaN Heterostructure FETs

发布时间:2019-10-25
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
IEEE Transactions on Electron Devices
全部作者:
林兆军
第一作者:
杨铭
论文类型:
综合研究
论文编号:
lw-183656
卷号:
63
期号:
4
页面范围:
1471
是否译文:
发表时间:
2016-03-22