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A Hybrid Simulation Technique to Investigate Bias-Dependent Electron Transport and Self-Heating in AlGaN/GaN HFETs

发布时间:2023-11-10
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
IEEE Transactions on Electron Devices
第一作者:
王鸣雁
论文编号:
1703670853552254977
页面范围:
1-5
字数:
3
是否译文:
发表时间:
2023-01-01