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穆文祥
副教授
所属院部:
新一代半导体材料集成攻关大平台
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Deep-level defects and carrier manipulation in Sn-doped β-Ga2O3 (100) single crystals
发布时间:2025-09-13
所属单位:
新一代半导体材料研究院
论文名称:
Deep-level defects and carrier manipulation in Sn-doped β-Ga2O3 (100) single crystals
发表刊物:
SCIENCE CHINA-MATERIALS
论文编号:
1934541961818955777
字数:
2000
是否译文:
否
发表时间:
2025-06
发布时间:
2025-09-13
上一条:
Effect of Internal Electrostatic Fields on Self-Powered X-Ray Detectors with High Sensitivity and Low Detection Limits in Polar Oxide Crystals α/β-BaTeMo2O9
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Bent-Shaped Twin Boundary in β-Ga2O3 Crystals
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