The Stripping Behavior of High-Dose Ion-Implanted Photoresists in Supercritical CO2 Formulations
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所属单位:集成电路学院
发表刊物:ECS J. Solid State Sci. & Tech.
全部作者:王卿璞,李玉香
第一作者:李波
论文编号:lw-147347
卷号:2
期号:4
页面范围:73
字数:5
是否译文:否
发表时间:2013-01-29
发表时间:2013-01-29