论文成果
Temperature-dependent Defect Behaviors in Ferroelectric Hf0.5Zr0.5O2 Thin Film: Re-wakeup Phenomenon and Underlying Mechanisms
  • 所属单位:
    信息科学与工程学院
  • 第一作者:
    李晓鹏
  • 论文编号:
    0FAF22F7148846A9BC62D7CB57CCAA35
  • 字数:
    3
  • 是否译文:
  • 发表时间:
    2022-12-03

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