研究员
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谢爽，研究员，硕士生导师。2014 年博士毕业于加拿大多伦多大学电子工程专业（QS30，ECE），2015-2019 年在荷兰代尔夫特理工大学电子仪器设计实验室任博士后研究员，2019-2020 年在比利时微电子研究中心（imec）任模拟集成电路设计工程师，2020 年 12 月加入山东大学微电子学院。主要研究方向为模拟与混合信号集成电路设计，主持多项省部级及横向科研项目，以第一作者发表 SCI/EI 论文二十余篇（一作TCASII两篇），拥有多款芯片从架构设计到流片测试的全流程研发经验。
山东大学 ，微电子学院 ，研究员 ，在职
比利时微电子所 (imec) ，模拟集成电路设计工程师
荷兰代尔夫特理工大学 ，博士后
加拿大多伦多大学
天津大学
天津大学
| 本科生课程名称 | 学期 | 学分 | 课程号 |
|---|---|---|---|
|
现代电路设计理论（双语） |
秋学期 |
3.0 |
0230025 |
| 名称 | 简介 |
|---|---|
|
模拟集成电路设计 |
团队长期深耕高精度模拟 / 混合信号芯片设计，覆盖 ADC、模拟前端 AFE、CMOS 图像传感器读出、片上温度传感全流程研发。 欢迎企业与业内同行对接产学研合作、技术委托开发，方向匹配可邮件沟通。 |
|
模数转换器 (ADC) |
SAR ADC Incremental Delta-sigma ADC pipelined ADC |
|
CMOS 图像传感器 |
高速CMOS图像传感器 低噪声CMOS图像传感器 CMOS图像传感器暗电流补偿 CMOS图像传感器工艺误差和温度特性研究 |
|
集成温度传感器 |
BJT 温度传感器 MOS温度传感器 Delay-line温度传感器 |
|
VLSI温度管理 |
VLSI/Microprocessor 温度管理 |
| 项目名称 | 项目周期 |
|---|---|
|
自主可控高性能服务器CPU的设计及产业化 |
2023-12-01,2026-12-31 |
|
（包干项目）高速 CMOS 图像传感器列级带数字误差矫正的 SAR ADC 研究 |
2022-11-01,2025-12-30 |
|
高速SAR ADC |
2021-11-15,2023-12-31 |
【1】谢爽.Digital Background Calibration Assisted with Noise-Shaping for a 10-b Bridged SAR ADC. JOURNAL OF CIRCUITS SYSTEMS AND COMPUTERS, 33,2024.
【2】谢爽.Digital Background Calibration Assisted with Noise-Shaping for a 10-b Bridged SAR ADCJOURNAL OF CIRCUITS SYSTEMS AND COMPUTERS,2024.
【3】谢爽.A Data Weight Averaging-Inspired Digital Calibration Method for a 10-Bit Noise-Shaping Successive Approximation Register. ELECTRONICS, 12,2023.
【4】谢爽.A 0.7 V R-2R SAR ladder-based temperature sensor with less supply sensitivity. 《ELECTRONICS LETTERS》, 58:536,2022.
【5】谢爽.BJT induced dark current in CMOS image sensors. INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL, 87:260,2022.
【6】谢爽.A Predictive Noise Shaping SAR ADC with Redundancy. JOURNAL OF CIRCUITS SYSTEMS AND COMPUTERS, 31,2022.
【7】Zhao, Yanan.Temperature characteristics testing and modifying of piezoelectric composites. MICROELECTRONIC ENGINEERING, 242,2021.
【8】Hou, Wei.Prospects and Challenges of Flexible Stretchable Electrodes for Electronics. coatings, 12,2022.
【9】谢爽.The Design Considerations and Challenges in MOS-Based Temperature Sensors: A Review. ELECTRONICS, 11,2022.
【10】谢爽.A digital foreground calibration method for SAR ADCs with redundancyIEICE Electronics express,2022.
【11】Shuang, Xie, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang, Xie, Shuang and Xie."A 10 bit 5 MS/s column SAR ADC with digital error correction for CMOS image sensors". IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 67:984-988,2020.
【12】Shuang, Xie, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang and Xie.“A CMOS image sensor with a 10 MHz column readout speed using digitally calibrated pipelined ADCs”. Microelectronics Journal, 99:104758,2020.
【13】Shuang, Xie, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang and Xie."A CMOS Image Sensor with Thermal Sensing Capability and Column Zoom ADCs". IEEE Sensors Journal, 20:2398-2404,2020.
【14】Shuang, Xie, Accel Abarca Prouza, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang and Xie.“A CMOS-Imager-Pixel-Based Temperature Sensor for Dark Current Compensation,”. IEEE TRANSACTIONS ON CIRCUITS AND SYSTEMS II-EXPRESS BRIEFS, 67:244-259,2020.
【15】Shuang, Xie, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang and Xie."Suppression of spatial and temporal noise in a CMOS image sensor,” IEEE Sensors Journal". IEEE Sensors Journal, 20:162-170,2020.
【16】Shuang, Xie, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang and Xie.“All-MOS self-referenced temperature sensor”. Electronics Letters, 55:1045-1047,2019.
【17】Shuang, Xie, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang and Xie.“On-chip Smart Temperature Sensors for Dark Current Compensation in CMOS Image Sensors”. IEEE Sensors Journal, 19:7849-7860,2019.
【18】Shuang, Xie, Albert Theuwissen, Shuang, Xie, Shuang and Xie."Compensation for Process and Temperature Dependency in a CMOS Image Sensor". Sensors, 19:870,2019.
【19】Shuang, Xie, Wai Tung Ng, Wai Tung Ng, Wai Tung Ng and Wai Tung Ng.“An all-digital self-calibrated delay-line based temperature sensor for VLSI thermal sensing and management”. Integration, the VLSI Journal, 51:107-117,2015.
高精度模数转换器（ADC）：SAR ADC、Pipeline ADC、增量型 / Delta-Sigma ADC、Noise-Shaping ADC，以及 ADC 数字校准、行为级建模、性能优化与测试技术
高精度模拟前端与传感器读出：低噪声放大器、可编程增益放大器、斩波稳零 AFE、ADC 驱动与基准缓冲，面向传感与测量场景的前端 - ADC 协同设计
CMOS 图像传感器与片上热管理：高速低噪声列级读出电路、暗电流与固定模式噪声补偿、像素级集成温度传感器、芯片工艺 - 温度误差校准技术
