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BJT induced dark current in CMOS image sensors

发布时间:2022-12-16
点击次数:
所属单位:
微电子学院
发表刊物:
INTEGRATION-THE VLSI JOURNAL
第一作者:
谢爽
论文编号:
040E08911CF047F8BDC4E65E9DB83169
卷号:
87
期号:
87
页面范围:
260
字数:
3
是否译文:
发表时间:
2022-11-01