张雷

教授

An In Situ Reflectance Spectroscopic Investigation to Monitor Two-Dimensional MoS2 Flakes on a Sapphire Substrate

• 所属单位：
  控制科学与工程学院
• 发表刊物：
  MATERIALS
• 第一作者：
  王译那
• 论文编号：
  56FFB185C45442C39936D798F0417513
• 卷号：
  13
• 期号：
  24
• 字数：
  5
• 是否译文：
  否
• 发表时间：
  2020-12-01