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论文成果
Reliability estimation of thin film platinum resistance MEMS thermal mass flowmeter by step-stress accelerated life testing
  • 所属单位：
    信息科学与工程学院
  • 发表刊物：
    MICROELECTRONICS RELIABILITY
  • 第一作者：
    康乔乔
  • 论文编号：
    E59E0304504E413BAD161523BBEDEB15
  • 期号：
    147
  • 字数：
    5
  • 是否译文：
    否
  • 发表时间：
    2023-08-01

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