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A study of the impact of gate metals on the performance of AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
APPLIED PHYSICS LETTERS
全部作者:
林兆军
第一作者:
赵景涛
论文类型:
综合研究
论文编号:
lw-173243
卷号:
107
页面范围:
113502
是否译文:
发表时间:
2015-09-15