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Enhanced effect of diffused Ohmic contact metal atoms for device scaling in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors

发布时间:2019-10-24
点击次数:
所属单位:
数学学院
发表刊物:
Superlattices and Microstructures
全部作者:
程爱杰,林兆军
第一作者:
刘欢
论文编号:
F9BB185E29D949D494A8B8F21346A6EF
卷号:
103
页面范围:
113
是否译文:
发表时间:
2017-03-01