Simulation of the effect of polarization Coulomb field scattering on device linearity in AlGaN/GaN heterostructure field effect transistors using the Monte Carlo method
发布时间:2021-12-08
点击次数:
- 所属单位:
- 集成电路学院
- 发表刊物:
- AIP ADVANCES
- 第一作者:
- 杨勇雄
- 论文编号:
- 654962E1CCCB40D78A9DD5E0B5E4D883
- 卷号:
- 11
- 期号:
- 8
- 是否译文:
- 否
- 发表时间:
- 2021-08-01