论文成果

返回中文主页

Simulation of the effect of polarization Coulomb field scattering on device linearity in AlGaN/GaN heterostructure field effect transistors using the Monte Carlo method

发布时间:2021-12-08
点击次数:
所属单位:
集成电路学院
发表刊物:
AIP ADVANCES
第一作者:
杨勇雄
论文编号:
654962E1CCCB40D78A9DD5E0B5E4D883
卷号:
11
期号:
8
是否译文:
发表时间:
2021-08-01