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Enhanced device performance of GaN high electron mobility transistors with in situ crystalline SiN cap layer

发布时间:2024-12-09
点击次数:
所属单位:
新一代半导体材料研究院
发表刊物:
APPLIED PHYSICS LETTERS
第一作者:
罗鑫
论文编号:
1843556233512062977
卷号:
125
期号:
12
字数:
4000
是否译文:
发表时间:
2024-09-16