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穆文祥
副教授
所属院部:
新一代半导体材料集成攻关大平台
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论文成果
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The anisotropy dependence of deformation mechanism of cleavage planes in β-Ga2O3 single crystal
所属单位:
晶体材料研究院
发表刊物:
Materials Science in Semiconductor Processing
第一作者:
Hou, Tong
论文编号:
1622498312654360577
卷号:
158
字数:
5000
是否译文:
否
发表时间:
2023-05-01
上一条:
Squeeze-Printing Ultrathin 2D Gallium Oxide out of Liquid Metal for Forming-Free Neuromorphic Memristor
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Growth and characterization of the β-Ga<sub>2</sub>O<sub>3</sub> (011) plane without line-shaped defects
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