论文成果
Reliability estimation of thin film platinum resistance MEMS thermal mass flowmeter by step-stress accelerated life testing
  • 所属单位:
    光学高等研究中心
  • 发表刊物:
    MICROELECTRONICS RELIABILITY
  • 第一作者:
    康乔乔
  • 论文编号:
    80E3D72A6985437E903AC925F733B1E6
  • 期号:
    147
  • 字数:
    5
  • 是否译文:
  • 发表时间:
    2023-06-17

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