Effect of Polarization Coulomb Field Scattering on Electrical Properties of the 70-nm Gate-Length AlGaN/GaN HEMTs

发布时间：2021-11-29

• 发表刊物：
  Scientific Reports
• 第一作者：
  Peng Cui
• 通讯作者：
  Zhaojun Lin
• 全部作者：
  Yuanjie Lv,Chen Fu,Huan Liu,Aijie Cheng,Chongbiao Luan,Yang Zhou
• 卷号：
  8
• 页面范围：
  12850
• DOI码：
  10.1038/s41598-018-31313-9
• 是否译文：
  否
• 发表时间：
  2018-08
• 收录刊物：
  SCI