论文成果
Effect of Polarization Coulomb Field Scattering on Electrical Properties of the 70-nm Gate-Length AlGaN/GaN HEMTs
  • 发表刊物:
    Scientific Reports
  • 全部作者:
    Yuanjie Lv,Chen Fu,Huan Liu,Aijie Cheng,Chongbiao Luan,Yang Zhou
  • 第一作者:
    Peng Cui
  • 通讯作者:
    Zhaojun Lin
  • 卷号:
    8
  • 页面范围:
    12850
  • 是否译文:
  • 发表时间:
    2018-08-01
  • 收录刊物:
    SCI

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