Effect of polarization Coulomb field scattering on device linearity in AlGaN/GaN heterostructure field-effect transistors
发布时间:2021-11-29
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发表刊物:
Journal of Applied Physics
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第一作者:
Peng Cui
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通讯作者:
Zhaojun Lin
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全部作者:
Yan Liu,Chen Fu,Yuanjie Lv
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卷号:
122
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页面范围:
124508
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DOI码:
10.1063/1.5005518
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是否译文:
否
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发表时间:
2017-09
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收录刊物:
SCI