Study of the parasitic source resistance at the different temperatures for AlGaN/AlN/GaN heterostructure field-effect transistors
发布时间:2021-11-29
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发表刊物:
Chinese Physics B
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第一作者:
Yan Liu
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通讯作者:
Zhaojun Lin
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全部作者:
Ming Yang,Yu Huo,Ruilong Han,Chen Fu,Peng Cui,Yuanjie Lv
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论文类型:
期刊论文
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卷号:
26
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期号:
9
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页面范围:
097104
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DOI码:
10.1088/1674-1056/26/9/097104
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是否译文:
否
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发表时间:
2017-01
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收录刊物:
SCI