标题：
Characterization of Electrical Properties of n-Type 4H-SiC Single Crystals by Raman Spectroscopy
点击次数：
所属单位：
晶体材料研究所
论文名称：
Characterization of Electrical Properties of n-Type 4H-SiC Single Crystals by Raman Spectroscopy
发表刊物：
ECS JOURNAL OF SOLID STATE SCIENCE AND TECHNOLOGY
第一作者：
胡小波
全部作者：
彭燕,陈秀芳,徐现刚
论文类型：
应用研究
论文编号：
lw-151711
是否译文：
否
发表时间：
2013-06
发布时间：
2019-04-14
职称：教授
所在单位：晶体材料研究院（晶体材料全国重点实验室）