标题：
Characterization of the three-dimensional residual stress distribution in SiC bulk crystals by neutron diffraction
点击次数：
所属单位：
晶体材料研究所
发表刊物：
CrystEngComm
全部作者：
胡小波,陈秀芳,杨祥龙,徐现刚
第一作者：
谢雪健
论文类型：
基础研究
论文编号：
58696A8E8A5E495B99E0A9BAAA070ADA
卷号：
19
期号：
43
页面范围：
6527
是否译文：
否
发表时间：
2017-11-21
发表时间：
2017-11-21
职称：教授
所在单位：晶体材料研究院