标题:
Characterization of Nitrogen-Boron doped 4H-SiC substrates
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所属单位:
晶体材料研究院(晶体材料全国重点实验室)
论文名称:
Characterization of Nitrogen-Boron doped 4H-SiC substrates
发表刊物:
International Journal of ELECTROCHEMICAL
第一作者:
胡小波
全部作者:
徐现刚,彭燕
论文编号:
lw-151719
是否译文:
否
发表时间:
2013-05
发布时间:
2019-10-24