标题：
Decoding “black-white band” defects in PVT grown 4H-SiC and its suppression through thermal field optimization.pdf
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所属单位：
新一代半导体材料研究院
论文名称：
Decoding “black-white band” defects in PVT grown 4H-SiC and its suppression through thermal field optimization.pdf
发表刊物：
Materials Science in Semiconductor Processing
第一作者：
王江风
论文编号：
018AA75C5EE4441F86E55AE76D5F9B3A
期号：
200
字数：
3
是否译文：
否
发表时间：
2025-08
发布时间：
2025-10-02
职称：教授
所在单位：晶体材料研究院（晶体材料全国重点实验室）