标题：
The stress birefringence images of low angle grain boundaries in 6H-SiC single crystals
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所属单位：
晶体材料研究院（晶体材料全国重点实验室）
论文名称：
The stress birefringence images of low angle grain boundaries in 6H-SiC single crystals
发表刊物：
Crystal Research
第一作者：
胡小波
全部作者：
胡小波
论文编号：
lw-139792
卷号：
47
页面范围：
603
是否译文：
否
发表时间：
2012-07
发布时间：
2019-11-07
职称：教授
所在单位：晶体材料研究院（晶体材料全国重点实验室）