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Investigation of the interface traps and current collapse in LPCVD SiNx/AlGaN/GaN MISHEMTs

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发表刊物：International Conference on Compound Semiconductor Manufacturing Technology (CS MANTECH), Miami, Florida, USA, May 16-19

全部作者：Chao Liu,Huaxing Jiang,Kei May Lau,Anping Zhang

第一作者：Kun Yu

通讯作者：Xing Lu

是否译文：否

发表时间：2016-05-01

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刘超 (教授)