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Lateral charge migration induced abnormal read disturb in 3D charge-trapping NAND flash memory

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所属单位：信息科学与工程学院

发表刊物：Applied Physics Express

第一作者：王菲

论文类型：基础研究

论文编号：DD7035046226458CB7351066E4F81539

卷号：13

期号：5

是否译文：否

发表时间：2020-04-17

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李元 (副教授)