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Comprehensive investigations on data pattern dependences in charge-Trap (ct) 3d nand flash memory

发布时间：2023-05-18 点击数：

所属单位：信息科学与工程学院

论文名称：Comprehensive investigations on data pattern dependences in charge-Trap (ct) 3d nand flash memory

发表刊物：IEEE 15th International Conference on Solid-State & Integrated Circuit Technology (ICSICT)

第一作者：孔亚晨

论文编号：1402446122235990017

字数：3

是否译文：否

发表时间：2020-11

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李元 (副教授)