TID Radiation Impacts on Charge-trapping Macaroni 3D NAND Flash Memory
发布时间：2023-05-18 点击数：
所属单位：信息科学与工程学院
论文名称：TID Radiation Impacts on Charge-trapping Macaroni 3D NAND Flash Memory
发表刊物：2020 IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits, IPFA 2020
关键字：Charge trapping;Failure (mechanical);Failure analysis;Integrated circuits;Ionizing radiation;Irradiation;Leakage currents;Memory architecture;Metals;NAND circuits;Threshold voltage
第一作者：秦琦
论文编号：1395301829817929729
卷号：2020-July
字数：3
是否译文：否
发表时间：2020-07