Bias-independent subthreshold swing in ballistic cold-source field-effect transistors by drain density-of-states engineering
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所属单位:信息科学与工程学院
发表刊物:APPLIED PHYSICS LETTERS
第一作者:刘坤一
论文编号:B46A3DC4AF274ED6974E6D915BF1672F
卷号:124
期号:5
是否译文:否
发表时间:2024-01-29
发表时间:2024-01-29